Type C手機(jī)充電線端口
過溫保護(hù)方案

　　Type C手機(jī)數(shù)據(jù)線存在的問題

       與傳統(tǒng)Micro 接口相比，Type C接口有不區(qū)分正反面、可以通過3A的電流，實(shí)現(xiàn)快速充電等優(yōu)勢，所以Type C慢慢的成為眾多手機(jī)的標(biāo)配。但Type C也有很多的不足，比如Type C連接器公頭和母座多次插拔導(dǎo)致接觸電阻的上升；Type C連接器Pin與Pin之間的間距較小，頭發(fā)、金屬屑、咖啡漬、汗?jié)n等雜物進(jìn)入Type C連接器狹小空間里，導(dǎo)致充電端子處的Vbus 和GND 形成微短路；尤其是Type C連接器的結(jié)構(gòu)更復(fù)雜，加工精度的問題也可導(dǎo)致接觸電阻的不穩(wěn)定。隨著充電電流的不斷提高，Type C 充電端口出現(xiàn)發(fā)熱燒毀的現(xiàn)象呈現(xiàn)上升趨勢，所以Type C充電端口的安全保護(hù)也成為眾多手機(jī)廠家越來越關(guān)注的焦點(diǎn)。

 
? 手機(jī)充電口發(fā)熱燒黑

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解決方案

添鑫是可提供一種在Type C Vbus上串聯(lián)PTC的數(shù)據(jù)線熱保護(hù)方案，此方案為在Type C端口的PCB上回流焊接貼片PTC(如下圖所示），此方案有生產(chǎn)工藝簡單、可靠性高等特點(diǎn)。

 

此方案工作原理為如果端口處異物的存在，在Type C端口就形成了一個(gè)低阻回路，手機(jī)充電器的電流可以經(jīng)由Type C端口的低阻回路回到充電器電路中，也就是電流不會(huì)再流到手機(jī)內(nèi)部（如下圖所示）。此時(shí)端口溫度急劇上升，熱量通過熱傳導(dǎo)的方式傳遞到PTC，使PTC溫度升高，當(dāng)PTC溫度達(dá)到動(dòng)作溫度時(shí)，PTC動(dòng)作，切斷充電回路，使充電端口溫度下降，此方案可以有效的防止由于溫度升高引起手機(jī)充電端口的燒毀。

 
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實(shí)測結(jié)果

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模擬短路發(fā)熱測試下端口溫度變化曲線

 

　　從上圖中可看到充電端口表面的溫度控制在120℃以內(nèi)，外殼表面溫度控制在65℃以內(nèi)。

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  　 外  觀　       

  

　　模擬短路發(fā)熱測試后外殼與端口均完好，無形變。
綜上所述，長園維安的手機(jī)數(shù)據(jù)線熱保護(hù)方案能很好的把充電端口的溫度控制在120℃以內(nèi)，外殼表面的溫度控制在65℃以內(nèi)，避免了極端情況的發(fā)生。